|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Rule-based data mining for yield improvement in semiconductor manufacturing |
| Auteur: |
Weiss, Sholom M. Baseman, Robert J. Tipu, Fateh Collins, Christopher N. Davies, William A. Singh, Raminderpal Hopkins, John W. |
| Verschenen in: |
Applied intelligence |
| Paginering: | Jaargang 33 (2009) nr. 3 pagina's 318-329 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |