|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Semiconductor chip’s quality analysis based on its high dimensional test data |
| Auteur: |
Kai, Sun Jin, Wu |
| Verschenen in: |
Annals of operations research |
| Paginering: | Jaargang 311 () nr. 1 pagina's 183-194 |
| Jaar: |
2019-05-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |