Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Coupling induced soft error mechanisms in nanoscale CMOS technologies
 
 
Titel: Coupling induced soft error mechanisms in nanoscale CMOS technologies
Auteur: Sayil, Selahattin
Wang, Juyu
Verschenen in: Analog integrated circuits and signal processing
Paginering: Jaargang 79 (2013) nr. 1 pagina's 115-126
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 14 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland