|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
UVM-based verification methodology for RFID-enabled smart-sensor systems |
| Auteur: |
Sathyamurthy, Muralikrishna Neumann, Felix Kotynia, Lukasz Hennig, Eckhard |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 78 (2013) nr. 1 pagina's 191-207 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |