|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
RELAB: a tool to include MOSFETs variability, BTI aging and dielectric breakdown in SPICE simulators |
| Auteur: |
Martin-Martinez, J. Moras, M. Rodriguez, R. Nafria, M. Aymerich, X. |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 78 (2013) nr. 1 pagina's 65-76 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |