|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Implicit functional testing of switched current filter based on fault signatures |
| Auteur: |
Long, Ying He, Yigang Liu, Liang Hou, Zhouguo |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 71 (2011) nr. 2 pagina's 293-301 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |