|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A test points selection method for analog fault dictionary techniques |
| Auteur: |
Yang, Chenglin Tian, Shulin Long, Bing Chen, Fang |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 63 (2009) nr. 2 pagina's 349-357 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |