|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Parametric Yield Optimization of MOS IC's Affected by Device Mismatch |
| Auteur: |
Massimo Conti Paolo Crippa Simone Orcioni Claudio Turchetti |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2001) nr. 3 pagina's 19 p. |
| Jaar: |
2001-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |