|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
The Influence of Strain Relaxation on the Electrical Properties of Submicron Si/SiGe Resonant-Tunneling Diodes |
| Auteur: |
Lukey, P. W. Caro, J. Zijlstra, T. van der Drift, E. Radelaar, S. |
| Verschenen in: |
Analog integrated circuits and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2000) nr. 1 pagina's 27-35 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |