|
Insight into the origins of mobility deterioration in indium phosphide-based epitaxial layer |
|
|
|
Titel: |
Insight into the origins of mobility deterioration in indium phosphide-based epitaxial layer |
Auteur: |
Li, Si Jiang, Yongkang Wei, Hua Liu, Hanbao Ye, Xiaoda Zhao, Xingkai Chen, Feihong Deng, Jiayun Yang, Jie Wang, Chong Liu, Tingfang Liu, Tinglong Tang, Gang Pu, Shikun Liu, Qingju Hui, Feng Qiu, Feng |
Verschenen in: |
Materials today electronics |
Paginering: |
Jaargang 10 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2024 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
The Author(s) |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|