Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
 
 
  Design and reliability assessment of an ultra-thin body electrostatically doped bipolar transistor for mixed signal applications
 
 
Titel: Design and reliability assessment of an ultra-thin body electrostatically doped bipolar transistor for mixed signal applications
Auteur: Sahu, Abhishek
Kumar, Abhishek
Dwivedi, Anurag
Tiwari, Shree Prakash
Verschenen in: Memories, materials, devices, circuits and systems
Paginering: Jaargang 8 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2024
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland