|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimizing reliability and performance in Re-G-CJNFe-FETs: The role of gate work function and high-k dielectrics in analog and linearity innovations |
| Auteur: |
Singh, Abhay Pratap Baghel, R.K. Tirkey, Sukeshni Kumar, Alok |
| Verschenen in: |
Micro and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 205 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |