|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Addressing interface trap charge sensitivity in tunnel FETs via dual metal gate engineering |
| Auteur: |
Koppolu, Kalpana B., Samuyelu K., C.B. Rao |
| Verschenen in: |
Micro and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 205 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 37 gevonden artikelen
| volgende >> |