|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Device and circuit-level assessment of temperature variation on the DC, Analog/RF and linearity performance metrics of III-V TFETs for reliability |
| Auteur: |
Verma, Priyanka Kumar, Satyendra |
| Verschenen in: |
Micro and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 202 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |