|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Potential model and simulation analysis of dual material gate vertical TFET with impact of interface trap charges |
| Auteur: |
Kalai Selvi, K. Dhanalakshmi, K.S. Padmavathi, R. Anusha |
| Verschenen in: |
Micro and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |