|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Non-destructive thickness measurement of Si wafers via optical third-harmonic generation with femtosecond laser pulses |
| Auteur: |
Jae Lee, In Hee Kim, Dae Hahm, Jiwon Yoo, Hongki Kim, Seung-Woo Kim, Young-Jin |
| Verschenen in: |
Results in optics |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |