|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Saturation profile measurement of atomic layer deposited film by X-ray microanalysis on lateral high-aspect-ratio structure |
| Auteur: |
Haimi, Eero Ylivaara, Oili M.E. Yim, Jihong Puurunen, Riikka L. |
| Verschenen in: |
Applied surface science advances |
| Paginering: | Jaargang 5 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |