|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 71 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of reactive electron beam deposited tantalum penta oxide thin films with spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy |
| Auteur: |
Tokas, R.B. Jena, S. Prathap, C. Thakur, S. Divakar Rao, K. Udupa, D.V. |
| Verschenen in: |
Applied surface science advances |
| Paginering: | Jaargang 18 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 71 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |