|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessing data remnants in modern smartphones after factory reset |
| Auteur: |
Blankesteijn, Mattheüs B. Fukami, Aya Geradts, Zeno.J.M.H. |
| Verschenen in: |
Forensic science international |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |