|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Z-Scan theory for thin film measurements: Validation of a model beyond the standard approach using ITO and HfO 2 |
| Auteur: |
Tognazzi, Andrea Franceschini, Paolo Tran, Thi Ngoc Lam Chiasera, Alessandro Vincenti, Maria Antonietta Cino, Alfonso Carmelo Akozbek, Neset Scalora, Michael De Angelis, Costantino |
| Verschenen in: |
Optical materials. X |
| Paginering: | Jaargang 19 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
| << vorige |