|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 87 van 233 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental and numerical studies on the power RF N-LDMOS transistor under cold and hot thermal shock tests based aging mechanism |
| Auteur: |
Belaïd, M.A. Nahhas, A. |
| Verschenen in: |
Results in engineering |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 87 van 233 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |