|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Stacking fault-induced strengthening mechanism in thermoelectric semiconductor Bi2Te3 |
| Auteur: |
Huang, Xiege Feng, Xiaobin An, Qi Huang, Ben Zhang, Xiaolian Lu, Zhongtao Li, Guodong Zhai, Pengcheng Duan, Bo Snyder, G. Jeffrey Goddard III,, William A. Zhang, Qingjie |
| Verschenen in: |
Matter |
| Paginering: | Jaargang 6 () nr. 9 pagina's 3087-3098 |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |