|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Reduction of interface defects in gate-recessed GaN HEMTs by neutral beam etching |
| Auteur: |
Yu, Chia Hao Chiang, Wei Hsiang Chen, Yi-Ho Samukawa, Seiji Wuu, Dong Sing Chung, Chin-Han Hsiao, Ching-Lien Horng, Ray Hua |
| Verschenen in: |
Materials today advances |
| Paginering: | Jaargang 23 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |