|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Enabling focused ion beam sample preparation for application in reverse tip sample scanning probe microscopy |
| Auteur: |
Lagrain, P. Paulussen, K. Grieten, E. Van den Bosch, G. Rachidi, S. Yudistira, D. Wouters, L. Hantschel, T. |
| Verschenen in: |
Micro and nano engineering |
| Paginering: | Jaargang 23 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
IMEC |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |