|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Beyond transmission electron microscopy imaging: Atom probe tomography reveals chemical inhomogeneity at stacking fault interfaces in InGaN/GaN light-emitting diodes |
| Auteur: |
Shu, Ruiying Oliver, Rachel A. Frentrup, Martin Kappers, Menno J. Xiu, Huixin Kusch, Gunnar Wallis, David J. Hofer, Christina Bagot, Paul A.J. Moody, Michael P. |
| Verschenen in: |
Materialia |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |