|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray nanodiffraction analysis of residual stresses in polysilicon electrodes of vertical power transistors |
| Auteur: |
Karner, Stefan Blank, Oliver Rösch, Maximilian Burghammer, Manfred Zalesak, Jakub Keckes, Jozef Todt, Juraj |
| Verschenen in: |
Materialia |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 56 gevonden artikelen
| << vorige |