|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructure analysis of epitaxial BaTiO3 thin films on SrTiO3-buffered Si: Strain and dislocation density quantification using HRXRD methods |
| Auteur: |
Borzì, A. Dolabella, S. Szmyt, W. Geler-Kremer, J. Abel, S. Fompeyrine, J. Hoffmann, P. Neels, A. |
| Verschenen in: |
Materialia |
| Paginering: | Jaargang 14 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |