|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect generation in a data-storage layer by strong ion bombardment for multilevel non-volatile memory applications |
| Auteur: |
Park, S. Seo, T. Jeon, C. Lee, Y.K. Chung, Y. |
| Verschenen in: |
Materials today nano |
| Paginering: | Jaargang 19 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |