|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Probing Semiconductor Properties with Optical Scanning Tunneling Microscopy |
| Auteur: |
Wieghold, Sarah Nienhaus, Lea |
| Verschenen in: |
Joule |
| Paginering: | Jaargang 4 () nr. 3 pagina's 524-538 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |