|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal boundary resistance correlated with strain energy in individual Si film-wafer twist boundaries |
| Auteur: |
Xu, D. Hanus, R. Xiao, Y. Wang, S. Snyder, G.J. Hao, Q. |
| Verschenen in: |
Materials today physics |
| Paginering: | Jaargang 6 () nr. C pagina's 53-59 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |