|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Revealing electrical and mechanical degradation of Ni/Bi2Te3 interface through the quantitative interfacial diffusion analysis |
| Auteur: |
Qiu, Tian Li, Zhi Zhou, Jie Zhou, Man Bao, Shucheng Zhu, Wei Deng, Yuan |
| Verschenen in: |
Materials today physics |
| Paginering: | Jaargang 56 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |