|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 89 gevonden artikelen
| Titel: |
Probing the charged defects in single-layer WS2 at atomic level |
| Auteur: |
Ruan, Zilin Lu, Jianchen Li, Baijin Chen, Qizan Hao, Zhenliang Gao, Lei Cai, Jinming |
| Verschenen in: |
Materials today physics |
| Paginering: | Jaargang 27 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 89 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |