|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic-scale chemical mapping of copper dopants in Bi2Te2.7Se0.3 thermoelectric alloy |
| Auteur: |
Kim, Y.-M. Lee, K.H. Fu, L. Oh, M.-W. Yang, S.-H. Ning, S. Han, G. Kim, M.Y. Kim, J.-S. Jeong, M. Jang, J. Lee, E. Okunishi, E. Sawada, H. Kim, S.-i. Pennycook, S.J. Lee, Y.H. Kim, S.W. |
| Verschenen in: |
Materials today physics |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |