|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect charging and resonant levels in half-Heusler Nb1−x Ti x FeSb |
| Auteur: |
Tian, Yefan Vagizov, Farit G. Ghassemi, Nader Ren, Wuyang Zhu, Hangtian Wang, Zhiming Ren, Zhifeng Ross Jr., Joseph H. |
| Verschenen in: |
Materials today physics |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |