|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of the machine learning classifier in wafer defects classification |
| Auteur: |
Mat Jizat, Jessnor Arif P.P. Abdul Majeed, Anwar Ab. Nasir, Ahmad Fakhri Taha, Zahari Yuen, Edmund |
| Verschenen in: |
CT express |
| Paginering: | Jaargang 7 () nr. 4 pagina's 535-539 |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Korean Institute of Communications and Information Sciences (KICS) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |