|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of the high mobility and stability of InGaZnO/InSnZnO bilayer thin-film transistors via quantitative defect analysis |
| Auteur: |
Weldemhret, Teklebrahan Gebrekrstos Yi, Dong-Joon Jeong, Kwangsik Chung, Kwun-Bum |
| Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
| Paginering: | Jaargang 71 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |