|
SiO2/Si stack’s damage in plasma processing: Ar, O 2 , and H 2 gas species effect on damage formation, structure, and recovery |
|
|
|
Titel: |
SiO2/Si stack’s damage in plasma processing: Ar, O 2 , and H 2 gas species effect on damage formation, structure, and recovery |
Auteur: |
Nunomura, Shota Tsutsumi, Takayoshi Kamataki, Kunihiro Oshima, Ryuji Shiratani, Masaharu Hori, Masaru |
Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
Paginering: |
Jaargang 62 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2025 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|