|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 88 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative analysis of structure and interfacial electrical properties of transition metal oxide layers grown on GaN using atomic layer deposition |
| Auteur: |
Tomašiūnas, R. Mandl, M. Reklaitis, I. Malinauskas, T. Stanionytė, S. Paipulas, D. Ritasalo, R. Taeger, S. Strassburg, M. Sakoda, K. |
| Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
| Paginering: | Jaargang 60 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 88 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |