|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 137 van 259 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ differential atomic force microscopy (AFM) measurement for ultra-thin Thiol SAM patterns by area-selective deposition technique |
| Auteur: |
Gao, Xinshuang Zhang, Hongru Li, Shi Wang, Luya Dai, Xingang Hu, Yanjun Xu, Junquan Jing, Gaoshan Fan, Guofang |
| Verschenen in: |
Surfaces and interfaces |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 137 van 259 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |