|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray topographic study of defects in Si-based multilayer epitaxial power devices |
| Auteur: |
Shul'pina, Iren L. Kozlov, Vladimir A. |
| Verschenen in: |
Modern electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 2 (2016) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The National University of Science and Technology MISiS |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 6 gevonden artikelen
| << vorige |