|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 5 gevonden artikelen
| Titel: |
Research of morphology and structure of 3C–SiC thin films on silicon by electron microscopy and X-ray diffractometry |
| Auteur: |
Gusev, Alexander S. Ryndya, Sergei M. Zenkevich, Andrei V. Kargin, Nikolai I. Averyanov, Dmitrii V. Grekhov, Maksim M. |
| Verschenen in: |
Modern electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 1 (2015) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The National University of Science and Technology MISiS |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 5 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |