|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
On Optimising Spatial Sampling Plans for Wafer Profile Reconstruction ⁎ ⁎ The second author gratefully acknowledges the financial support provided by Irish Manufacturing Research (IMR) for this research. |
| Auteur: |
McLoone, Seán Zocco, Federico Maggipinto, Marco Susto, Gian Antonio |
| Verschenen in: |
IFAC-PapersOnLine |
| Paginering: | Jaargang 51 (2018) nr. 10 pagina's 115-120 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |