|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 176 van 240 gevonden artikelen
| Titel: |
Prediction of the Wafer quality with respect to the production equipments data ★ ★ This work is part of the European project “INTEGRATE”, and carried by ST-microelectronics Fab. |
| Auteur: |
Melhem, Mariam Ananou, Bouchra Djeziri, Mohand Ouladsine, Mustapha Pinaton, Jacque |
| Verschenen in: |
IFAC-PapersOnLine |
| Paginering: | Jaargang 48 (2015) nr. 21 pagina's 78-84 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 176 van 240 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |