|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Deuterium concentration depth profiling in sputter-deposited tungsten coated F82H using secondary ion mass spectrometry |
| Auteur: |
Xu, Y. Hirooka, Y. Luo, L.M. Wu, Y.C. |
| Verschenen in: |
Nuclear materials and energy |
| Paginering: | Jaargang 21 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |