|
Erosion characterization of SiC and Ti3SiC2 on DIII-D using focused ion beam micro-trenches |
|
|
|
Titel: |
Erosion characterization of SiC and Ti3SiC2 on DIII-D using focused ion beam micro-trenches |
Auteur: |
Coburn, J. Unterberg, E. Barton, J. Rudakov, D. Bykov, I. Parish, C.M. Wilcox, R. Lasnier, C. Abrams, T. Watkins, J. Hillis, D.L. Bourham, M. |
Verschenen in: |
Nuclear materials and energy |
Paginering: |
Jaargang 19 (2019) nr. C pagina's 316-323 |
Jaar: |
2019 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|