|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 290 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge effect on the irradiation damage of silicon: Insights from phase-field simulation |
| Auteur: |
Wang, Yuanyuan Gao, Yinlu Jiang, Xue Zhao, Jijun |
| Verschenen in: |
Materials today communications |
| Paginering: | Jaargang 24 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 290 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |