|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry studies on microstructure evolution of a-Si:H to nc-Si:H films by H2 plasma exposure |
| Auteur: |
Kanneboina, Venkanna Madaka, Ramakrishna Agarwal, Pratima |
| Verschenen in: |
Materials today communications |
| Paginering: | Jaargang 15 (2018) nr. C pagina's 18-29 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |