|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 94 van 132 gevonden artikelen
| Titel: |
Naïve Bayes machine learning model for image classification to assess the level of deformation of thin components |
| Auteur: |
Ramesh Kumar, P Vijaya, A |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 68 () nr. P6 pagina's 2265-2274 |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 94 van 132 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |