Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 94 van 132 gevonden artikelen
 
 
  Naïve Bayes machine learning model for image classification to assess the level of deformation of thin components
 
 
Titel: Naïve Bayes machine learning model for image classification to assess the level of deformation of thin components
Auteur: Ramesh Kumar, P
Vijaya, A
Verschenen in: Materials today: proceedings
Paginering: Jaargang 68 () nr. P6 pagina's 2265-2274
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 94 van 132 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland