|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 82 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
The influence of image force effect on the accuracy of modeling of tunneling current for ultra thin high-k dielectric material Ta2O5 based MOS devices |
| Auteur: |
Maity, N.P. Maity, Reshmi Baishya, S. |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 5 (2018) nr. 7P1 pagina's 15104-15109 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 82 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |