|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
Exploration of Trap Levels in GaN and Al0.2Ga0.8N Layers by Temperature-Dependent Photoconductivity Measurement |
| Auteur: |
Prakash, Nisha Kumar, Gaurav Barvat, Arun Anand, Kritika Choursia, B. Pal, Prabir Khanna, Suraj P. |
| Verschenen in: |
Materials today: proceedings |
| Paginering: | Jaargang 5 (2018) nr. 1P2 pagina's 2132-2138 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |